Десорбция полем - удаление адсорбированных на поверхности проводника атомов или молекул сильным
электрич. полем (напряжённостью Е~107-108В/см).
Д. п. наблюдается в широком интервале температур, в частности при сколь угодно низких
темп-pax. Удаляемые частицы ионизованы. Удаление сильным полем собств. атомов
поверхности наз. испарением полем. Наиб. полно изучена Д. п. с металлич. подложки
в поле, ускоряющем положит. ионы. Д. п. с образованием отрицат. ионов изучена
хуже из-за экранирующего действия автоэлектронной эмиссии.
Д. п. и испарение полем
можно рассматривать как термич. испарение ионов, преодолевающих за счёт теплового
возбуждения потенциальный барьер, сниженный сильным электрич. полем (аналогично
термоэлектронной эмиссии в сильном электрич. поле, см. также Шоттки
эффект). Д. п. можно рассматривать и как поверхностную ионизацию в
сильном электрич. поле. Для частиц с относительно низкой энергией ионизации
и для не слишком низких температур теория удовлетворительно определяет кратность
заряда ионов и объясняет наблюдаемую связь между десорбирующим полем E и
температурой T для одной и той же скорости Д. п.:
Здесь п - кратность
ионизации, е - заряд электрона,
- теплота сублимации адсорбиров. вещества, In- полная энергия
n-кратной ионизации удаляемой частицы, Ф - работа выхода поверхности,
- ср. время преодоления
частицей энергетич. барьера высотой
, - период колебания
частицы в потенц. яме.
Для больших энергий ионизации
и для низких температур, когда термич. возбуждение не обеспечивает преодоления барьера,
теория Д. п. усложняется. Привлекается механизм туннельного "просачивания"
ионов через барьер (см. Туннельный эффект ),учитываются проникновение
поля в проводник, поляризуемость поверхностных атомов. Строгой теории
Д. п., объясняющей всю совокупность накопленных экспериментальных фактов, пока
нет.
Эксперименты с Д. п. позволяют
определять энергии связи с матрицей адсорбиров. частицы. Д. п. применяют для
холодной очистки острий в полевой эмиссионной микроскопии, как один из методов
получения интенсивных ионных пучков, напр. в ионных источниках массспектрометров. Д. п. и испарение полем - осн. процессы,
обеспечивающие получение ионов в атомном зонде (сочетание полевого ионного
микроскопа с массспектрометром) .
В. H. Шредник