Эшелетт (от франц. echelette-лесенка, лестница) - оп-тич. элемент, плоская отражат. фазовая дифракционная решётка с треугольной формой штрихов. Используется как диспергирующий элемент в дифракц. спектральных приборах для разложения оптич. излучения в спектр. Э. изготовляется нарезанием на плоской металлич. поверхности (с помощью спец. делительной машины с алмазным резцом) строго параллельных штрихов, необходимая треугольная форма к-рых (рис. 1) определяется формой режущей грани резца. Эшелетт изготовляются также спец. методами, такими, как полимерные копии-реплики с нарезных эшелеттов, покрытые тонким слоем металла. Голографич. методы изготовления дифракц. решёток не позволяют изготовлять Э. со строго треугольной несимметричной формой штрихов, а лишь с приближённой к ней формой и лишь для УФ-, видимой и ближней ИК-областей.
Рис. 1. Схематическое
изображение функций JN , Jд и их произведения
JдJN=1N2 (заштриховано):
направления jm на
центр дифракционного максимума функции Jд совпадает
с интерференционным максимумом функции JN при т
= 2; пэ-нормаль к плоскости эшелетта, пш-нормаль к грани штриха.
Формулы для расчёта спектроскопич. характеристик эшелетта, такие как осн. соотношение - т. н. формула дифракц. решётки d(siny + sinj) = ml, выражения для угл. дисперсии dj/dl, разрешающей силы R = l/dl, области дисперсии Dl =l1/m (d-период решётки, y- угол падения, j- угол дифракции, т - порядок спектра, dl - минимально разрешаемый спектральный интервал длин волн, l1 - коротковолновая граница спектра исследуемого излучения), такие же, как и для амплитудной (напр., щелевой) дифракц. решётки, т. к. они связаны с периодич. структурой решётки и не зависят от формы штриха. Осн. отличие и существ. практич. преимущество Э. перед амплитудной дифракц. решёткой состоит в том, что у Э. при определ. схеме установки один из образуемых им спектров ненулевого порядка (m0) может иметь наиб. интенсивность по сравнению с остальными спектрами др. порядков. В этот спектр ненулевого порядка Э. концентрирует большую часть падающего на него потока энергии (до 80%), что позволяет создавать дифракц. спектральные приборы высокой светосилы.
Расчёт результирующего распределения интенсивности в плоскости дисперсии спектр. прибора с Э. (в плоскости, перпендикулярной штрихам Э.), проведённый на основе Гюйгенса - Френеля принципа, показывает, что оно пропорционально произведению двух функций - интерференционной JN и дифракционной Jд: JрезJNJд. Интерференц. функция JN = (sinNq/sinq)2 - результат интерференции когерентных пучков, дифрагированных от всех N штрихов Э. [здесь q = (p/l)d(siny+sinj)]. Она имеет вид эквидистантных резких максимумов разл. порядков т и одинаковой пиковой интенсивности, пропорциональной N2 при 0 = mp, откуда следует: d(siny + sinj)= ml. Дифракц. функция Jд = (sin и/и)2 -результат дифракции на отд. штрихах Э.; здесь u = (p/l)d[(sin y+ sin j) - tgW(cosy + cosj)]. В отличие от JN функция Jд зависит от формы штриха Э.- угла W "скоса" пологой грани несимметричного треугольного штриха (рис. 1). Макс. значение функции Jд=1 при u = 0; по обе стороны от максимума она относительно быстро уменьшается (как при дифракции на щели, см. Дифракция света).
Макс. значение произведения этих функций (JN)mах(Jд)mах
= = N2•1, а следовательно, и макс. интенсивность спектра
будет в том случае, если интерференц. максимум функции JN к--л.
порядка т0
совпадает с центром дифракц. максимума функции Jд. Для этого
необходимо, чтобы направление jmах в ур-нии d(siny + sinjmах)
= ml, совпало с направлением jд mах на центр максимума функции
Jд. функция Jд = (sin и/и)2
при и =0 равна 1, тогда для выполнения указанного условия
углы jmах и y, входящие в ур-ние решётки, должны одновременно удовлетворять
соотношению
В случае эшелетта это возможно, т. к. положение максимумов функции JN (при заданных y и d)не зависит от формы штриха (угла W) и, изменяя величину W, можно совместить
направление на центр функции Jд с любым максимумом функции JN порядка т0.
В этом и состоит осн. преимущество Э. перед амплитудной решёткой, у к-рой максимум
функции Jд совпадает с максимумом функции JN нулевого
порядка (т =0), к-рый является ахроматическим, т. е. не образует
спектра. На рис. 1 схематически изображены функции JN и Jд
и их произведение (штриховка). Здесь дифракц. максимум Jд
точно совпадает с интерференц. максимумом 2-го порядка.
Соотношение (1) имеет простой
геом. смысл. Если на Э. падает луч (здесь и далее слово "луч" означает
параллельный пучок), образующий угол с нормалью пэ к плоскости
Эшелетт, то направление jm
на центр функции Jд определяется по закону зеркального отражения
от рабочей пологой грани штриха, т. е. углы b и b' (рис. 1), образованные падающим
и дифрагированным jmах лучами с нормалью пш
к грани штриха, равны: b' = b. Угол jmах, удовлетворяющий условию
(1), наз. углом "блеска" (blaze), а длину волны, для к-рой выполняются
это условие и условие d(siny + sinjmax) = =mlбл,-
длиной волны "блеска" lбл. Область длин волн вблизи lбл
наз. областью высокой концентрации энергии в данном порядке спектра, здесь образуется
спектр наиб. интенсивности. Однако выполнение условий "блеска" приводит
к искажению интенсивности линий регистрируемого спектра. Если, напр., в исследуемом
спектре имеется неск. спектральных линий одинаковой интенсивности, то в образовавшемся
спектре только одна из них, совпадающая с lбл, будет иметь наиб.
интенсивность (рис. 2), а интенсивность остальных линий l1, l2,...,
l6 меньше и определяется "огибающей" функцией Jд,
что необходимо учитывать при обработке спектров.
Рис. 2. Искажающее действие
"огибающей" функции Jд на
интенсивность результирующих интерференционных максимумов
функции JN в области lбл2 спектра второго порядка.
Для оценки величины относит.
искажений интенсивности регистрируемого спектра по сравнению с интенсивностью
lбл "огибающую" функцию (sinu/u)2
можно преобразовать (из требования и = 0 и y + j = 2W) к виду
Для отражательного эшелетта это выражение
обычно наз. относительным коэф. отражения Э. r(l) по отношению к величине r(lбл1)=1,
где lбл1 - длина волны "блеска" в 1-м порядке спектра
т = 1. На рис. 3 приведены рассчитанные на ЭВМ графики функции r(l) в зависимости
от отношения l/lбл для т=1, 2, 3. Область полуширины
функции (sinu/u)2 при и= +p/2, где r(l)
= 0,405, наз. осн. областью концентрации излучения или областью энергетич. эффективности
Э.: (Dl)эн m = lбл m4m/(4m2-
1) (рис. 3). В пределах этой области длин волн величина r(l) изменяется в интервале
0,405<r(l)< 1, т.е. почти в 2,5 раза. Величина (Dl)эн m зависит
от порядка спектра т: максимальна в 1 -м порядке (Dl)эн 1
=(4/3)lбл1 и быстро уменьшается в спектрах
2-го, 3-го и далее порядков. Поэтому Э. наиб. часто используется в условиях
образования спектров 1-го порядка. Энергетич. область (Dl)эн 1 1-го
порядка спектра больше обычно используемой области дисперсии (Dl)д,
т. к. она свободна от переналожения спектров более высоких порядков т = 2, 3, ... Расчёт показывает, что при т= 1 величина r(l) в пределах области
дисперсии изменяется в интервале 0,68 < r(l) < 1, т. е. в ~1,5 раза. Такие
изменения r(l) возможны, если для данного исследуемого спектра Dl = l2
- l1 параметры Э. (W, d)и схема его установки выбраны так,
чтобы выполнялось условие "блеска". Если условие "блеска"
не выполняется, интервал изменения r(l) может быть больше, а величины r(l) неодинаковы
на краях спектра. Поэтому выбор параметров Э. для проведения исследований в
конкретной области спектра является важным. Если область спектра известна Dl
= l2 -l1, то величина lбл может быть определена
из соотношения lбл = 2l1l2/(l1 +
l2); в частности, для октавы [для к-рой l2 = 2l1
и к-рая при т=1 совпадает с областью дисперсии (Dl)д]
l6л = (4/3)l1. При этом lбл(l1
+ l2)/2. Напр., для октавы видимой области (l1 = 370 нм,
l2 = 740 нм) lбл = 493,3 нм; для октавы ИК-области (l
= 4-8 мкм) lбл = 5,33 мкм.
Рис. 3. График функции
(sinu/u)2 = r(x), x = l/l6л1,
в зависимости от отношения l/l6л1; (Dl)д - область дисперсии,
(Dl)э- область энергетической эффективности, (Dl)д и (Dl)э
уменьшаются с увеличением т.
Постоянная Э. d и
соответственно N1 = 1/d шт/мм выбираются из
условия d>l2 (l2-длинноволновая граница октавы
в мкм). Для видимой области спектра обычно используются Э. с N1
= 1200 шт/мм (d=0,83 мкм = 1,12 l2) и N1
= 600 шт/мм (d= 1,66 мкм = 2,25 l2). Для ИК-области, где
спектральный диапазон составляет неск. октав, используется Э. с N1
от 300 до 4 шт/мм.
Зная d и lбл,
можно из ур-ний d(siny + sinjm) = mlбл
и y + jm = 2W при заданном значении угла падения y найти величину
W. Напр., для октавы видимой области с Э. с N1=600 шт/мм при
y=10° и т=1 имеем W = 8,6°. Для ИК-области 4-8 мкм N1
= 100 шт/мм, т=1, y=10° имеем W=15,5°.
Если Э. имеет угол W, несколько
отличающийся от расчётного при заданном угле падения y, то изменением угла y
можно удовлетворить условию точного "блеска" при этом угле W.
При наиб. часто используемой
автоколлимац. схеме установки Э. y = j = W и 2dsinyW = mlбл
величина W определяется однозначно: для октавы в видимой области спектра lбл
= 0,493 мкм, N1 = 600 шт/мм, т=1, W = 8,5°.
Расчёт области концентрации
излучения и рабочей области спектра, создаваемого Э., упрощается, если излучение
характеризовать не длиной волны l, а волновым числом =
1/l см-1. При этом выражение для коэф. отражения Э. принимает вид
В этом случае функция
оказывается симметричной относительно
(рис. 4) и имеет одинаковый вид для всех порядков спектра, пересекающихся на
уровне =0,405.
Величина энергетич. эффективности ,
выраженная в единицах ,
не зависит от порядка спектра. При этом волновое число, соответствующее условию
точного "блеска"
равно ср. арифметическому крайних волновых чисел исследуемого спектра: ;
соответственно .
В пределах области дисперсии
коэф. отражения
изменяется в пределах 0,68 < r()
< 1 для всех порядков спектра (рис. 4).
Практически все серийно
изготовляемые нарезные диф-ракц. решётки и реплики с них являются Э. с разл.
числом N1 и W для разл. областей оптич. спектра - от
крайней УФ-области (l= 1 нм) до длинноволновой ИК-области (l=1000 мкм).
Для УФ-области используются
Э. с N1 = 3600, 2400, 1800 и 1200 шт/мм с углом W от 30' до
5° для области 1 -100 нм в схеме скользящего падения y = 80-85° и с
углом W = 5- 20° для области 100-400 нм; для видимой области используются
Э. с Ni = 1200-600 шт/мм с W = 8-20°; для разл. участков ИК-области - Э.
с N1 = 300, 200, 100, 50, 12, 6, 4 шт/мм с W = 5-20°.
Рис. 4. График коэффициента
отражения r(y) = (sinu/u)2, ;
- область
дисперсии и -область
энергетической
эффективности, не зависящие от т.
Нарезные металлич. Э. и полимерные металлизир. реплики с них обладают поляризующим действием, т. к. коэф. отражения r(l) оказывается разным для составляющих электрич. вектора падающего излучения, направленных вдоль штрихов и перпендикулярно к ним. Поляризующее действие зависит от длины волны и соотношения d/l, что необходимо учитывать при исследовании спектров поляризованного излучения.
В. И. Малышев