Лауэ метод - метод исследования монокристаллов с помощью дифракции рентгеновских лучей; один
из методов рентгеновского структурного анализа. Представляет собой усовершенствованную
методику опыта, поставленного в 1912 В. Фридрихом (W. Fried-rich) и П. Книппингом
(P. Knipping) по предложению М. Лауэ (М. Laue); в этом эксперименте была открыта
дифракция рентг. излучения на кристалле.
Схема метода Лауэ: SO -
первичный пучок лучей; К - кристалл; ММ' - пространственная ориентация
одной из находящихся в отражающем положении систем атомных плоскостей кристалла;
KL - отражённый (дифрагированный) луч;
- фотоплёнка.
В Л. м. тонкий пучок рентг.
лучей непрерывного спектра падает на неподвижный монокристалл, закреплённый
на гониометрич. головке (см. Рентгеновский гониометр ).Излучение, рассеянное
кристаллом в направлениях,
определяемых Брэгга - Вулъфа условием, регистрируется на плоской фотоплёнке,
помещённой за кристаллом перпендикулярно падающему пучку лучей; полученное изображение
наз. лауэграм-мой. В случае крупных монокристаллов фотоплёнка располагается
перед кристаллом, а лауэграмма, полученная таким способом, наз. эпиграммой.
Л. м. применяется для пространственной ориентировки монокристаллов (в особенности
неогранённых), определения точечной группы симметрии кристаллов, исследования
реальной структуры и совершенства внутр. строения монокристаллов (см. также
Рентгеновская топография ).Л. м. используется также для исследования
процессов старения и распада в метас-табильных фазах, перестройки кристаллич.
структуры под действием температуры, облучения нейтронами или g-излучением (см.
Рентгенография материалов ),а также неупругих когерентных процессов рассеяния
рентг. излучения и др. проблем.
Литература по методу Лауэ
Амелинкс С., Методы прямого наблюдения дислокаций [кристаллов], пер. с англ., M., 1968;
Афанасьев A. M., Александров П. А., Имамов P.M., Рентгеновская структурная диагностика в исследовании приповерхностных слоев монокристаллов, M., 1986;
Белов Н. В., Структурная кристаллография, М., 1951;
Беляков В. А., Сонин А. С., Оптика холестерических жидких кристаллов, M., 1982;
Бландел Т., Джонсон Л., Кристаллография белка, пер. с англ., М., 1979;
Бокий Г. Б., Порай-Кошиц М. А., Рентгеноструктурный анализ, 2 изд., т. 1, М., 1964;
Бюргер М., Структура кристаллов и векторное пространство, пер. с англ., М., 1961;
Вайнштейн Б. К., Симметрия кристаллов. Методы структурной кристаллографии, М., 1979;
Гинье А., Рентгенография кристаллвв. Теория и практика, пер. с франц., М., 1961;
Джеймс Р., Оптические принципы дифракции рентгеновских лучей, пер. с англ., M., 1950;
Жданов Г. С., Основы рентгеновского структурного анализа, M.- Л., 1940;
Липсон Г., Кокрен В., Определение структуры кристаллов, пер. с англ., М., 1956;
Порай-Кошиц M. А., Практический курс рентгеноструктурного анализа, т. 2, M., 1960;
Иверонова В. И., Ревкевич Г. П., Теория рассеяния рентгеновских лучей, 2 изд., M., 1978;
Скрышевский А. Ф., Структурный анализ жидкостей и аморфных тел, 2 изд., M., 1980;
Кривоглаз M. А., Дифракция рентгеновских лучей и нейтронов в неидеальных кристаллах, К., 1983;
Кристаллография и кристаллохимия, М., 1986;
Пинскер З. Г., Рентгеновская кристаллооптика, M., 1982.
Stout G, Н., Jеnsеn L. Н., X-ray structure determination, N. Y.- L., 1968;
Xейкер Д. М., Рентгеновская дифрактометрия монокристаллов, Л., 1973;
Electron and magnetization densities in molecules and crystals, ed. by P. Becker, N. Y.- L., 1980;
Structure and physical properties of crystals, Barselona, 1991.
Знаете ли Вы, что, как ни тужатся релятивисты, CMB (космическое микроволновое излучение) - прямое доказательство существования эфира, системы абсолютного отсчета в космосе, и, следовательно, опровержение Пуанкаре-эйнштейновского релятивизма, утверждающего, что все ИСО равноправны, а эфира нет. Это фоновое излучение пространства имеет свою абсолютную систему отсчета, а значит никакого релятивизма быть не может. Подробнее читайте в FAQ по эфирной физике.
- фотоплёнка.
