Структурный фактор (структурная амплитуда) - величина, характеризующая способность одной элементарной ячейки
кристалла когерентно рассеивать рентг. излучение в зависимости от числа N атомов в ячейке, их координат xj, уj, zj и атомных факторов fj. С. ф. тесно связан с фурье-компонентами
поляризуемости рентгеновской.
С. ф. Fhkl определяется как сумма атомных факторов fj с учётом имеющихся
пространственных сдвигов фаз между волнами, рассеянными разными атомами ячейки:
(i=
, h, k, l-индексы Миллера; см. Индексы кристаллографические).
С. ф. связан с амплитудой рассеяния элементарной ячейки кристалла. В кинематич.
приближении теории дифракции рентгеновских лучей интенсивность дифракц.
отражения с индексами h, k, l
В динамич. теории рассеяния
характеристики дифракц. максимумов определяются величиной |Fhkl|. Отсюда следует, что по экспериментально определяемым Ihkl
можно определить лишь модуль С. ф., для однозначного установления значения Fhkl необходимо, кроме того, решить т. н. фазовую проблему - найти фазы волн,
рассеянных разными атомами ячейки. Эта задача решается методами рентгеновского
структурного анализа.
С. ф. представляет собой
фурье-образ распределения электронной плотности r(x, y, z) в элементарной
ячейке кристалла:
где Vэя-объём
элементарной ячейки. Эта интегральная связь С. ф. с электронной плотностью лежит
в основе методов рентг. структурного анализа. В зависимости от симметрии расположения
атомов в элементарной кристал-лич. ячейке в направлениях, разрешённых Брэгга
- Вульфа условием, рассеянные атомами волны могут взаимно погашаться, так
что интенсивность нек-рых максимумов обращается в нуль. По тому, какие именно
дифракц. максимумы исчезли на рентгенограмме, можно (хотя и не всегда однозначно)
определить пространств. группу симметрии кристалла.
Аналогичным образом вводят
С. ф. в теории дифракции электронов и нейтронов, однако в этих случаях вместо
r(х, у, z)соответственно рассматривают распределение элек-тростатич.
потенциала и ядерной плотности в элементарной кристаллич. ячейке.
Литература по структурному фактору (структурной амплитуде)
Блохин М. А., Методы рентгеноспектральных исследований, М., 1959;
Лосев Н. Ф., Количественный рентгеноспектральный флуоресцентный анализ, М., 1969;
Плотников Р. И., Пшеничный Г. А., Флуоресцентный рент-генорадиометрический анализ, М., 1973;
Физические основы рентгеноспектрального локального анализа, пер. с англ., М., 1973;
Электронно-зондовый микроанализ, пер. с англ., М., 1974;
Афонин В. П., Гуничева Т. Н., Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ горных пород и минералов, Новосиб., 1977;
Лосев Н. Ф., Смагунова А. Н., Основы рентгеноспектрального флуоресцентного анализа, М., 1982;
Рентгенофлуоресцентный анализ, под ред. X. Эрхардта, пер. с нем., М., 1985;
Бахтиаров А. В., Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ в геологии и геохимии, Л., 1985;
Рентгенофлуоресцентный анализ, под ред. Н. Ф. Лосева, Новосиб., 1991.
Знаете ли Вы, что релятивистское объяснение феномену CMB (космическому микроволновому излучению) придумал человек выдающейся фантазии Иосиф Шкловский (помните книжку миллионного тиража "Вселенная, жизнь, разум"?). Он выдвинул совершенно абсурдную идею, заключавшуюся в том, что это есть "реликтовое" излучение, оставшееся после "Большого Взрыва", то есть от момента "рождения" Вселенной. Хотя из простой логики следует, что Вселенная есть всё, а значит, у нее нет ни начала, ни конца... Подробнее читайте в FAQ по эфирной физике.