к библиотеке к оглавлению FAQ по эфирной физике ТОЭЭ ТЭЦ ТПОИ ТИ

РЕАЛЬНАЯ ФИЗИКА

Глоссарий по физике

А Б В Г Д Е Ж З И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Э Ю Я

Структурный фактор (структурная амплитуда)

Структурный фактор (структурная амплитуда) - величина, характеризующая способность одной элементарной ячейки кристалла когерентно рассеивать рентг. излучение в зависимости от числа N атомов в ячейке, их координат x_j, у_j, z_j и атомных факторов f_j. С. ф. тесно связан с фурье-компонентами поляризуемости рентгеновской.

С. ф. F_hkl определяется как сумма атомных факторов f_j с учётом имеющихся пространственных сдвигов фаз между волнами, рассеянными разными атомами ячейки:

(i= , h, k, l-индексы Миллера; см. Индексы кристаллографические). С. ф. связан с амплитудой рассеяния элементарной ячейки кристалла. В кинематич. приближении теории дифракции рентгеновских лучей интенсивность дифракц. отражения с индексами h, k, l

В динамич. теории рассеяния характеристики дифракц. максимумов определяются величиной |F_hkl|. Отсюда следует, что по экспериментально определяемым I_hkl можно определить лишь модуль С. ф., для однозначного установления значения F_hkl необходимо, кроме того, решить т. н. фазовую проблему - найти фазы волн, рассеянных разными атомами ячейки. Эта задача решается методами рентгеновского структурного анализа.

С. ф. представляет собой фурье-образ распределения электронной плотности r(x, y, z) в элементарной ячейке кристалла:

где V_эя-объём элементарной ячейки. Эта интегральная связь С. ф. с электронной плотностью лежит в основе методов рентг. структурного анализа. В зависимости от симметрии расположения атомов в элементарной кристал-лич. ячейке в направлениях, разрешённых Брэгга - Вульфа условием, рассеянные атомами волны могут взаимно погашаться, так что интенсивность нек-рых максимумов обращается в нуль. По тому, какие именно дифракц. максимумы исчезли на рентгенограмме, можно (хотя и не всегда однозначно) определить пространств. группу симметрии кристалла.

Аналогичным образом вводят С. ф. в теории дифракции электронов и нейтронов, однако в этих случаях вместо r(х, у, z)соответственно рассматривают распределение элек-тростатич. потенциала и ядерной плотности в элементарной кристаллич. ячейке.

Литература по структурному фактору (структурной амплитуде)

Блохин М. А., Методы рентгеноспектральных исследований, М., 1959;
Лосев Н. Ф., Количественный рентгеноспектральный флуоресцентный анализ, М., 1969;
Плотников Р. И., Пшеничный Г. А., Флуоресцентный рент-генорадиометрический анализ, М., 1973;
Физические основы рентгеноспектрального локального анализа, пер. с англ., М., 1973;
Электронно-зондовый микроанализ, пер. с англ., М., 1974;
Афонин В. П., Гуничева Т. Н., Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ горных пород и минералов, Новосиб., 1977;
Лосев Н. Ф., Смагунова А. Н., Основы рентгеноспектрального флуоресцентного анализа, М., 1982;
Рентгенофлуоресцентный анализ, под ред. X. Эрхардта, пер. с нем., М., 1985;
Бахтиаров А. В., Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ в геологии и геохимии, Л., 1985;
Рентгенофлуоресцентный анализ, под ред. Н. Ф. Лосева, Новосиб., 1991.

А. В. Колпаков

к библиотеке к оглавлению FAQ по эфирной физике ТОЭЭ ТЭЦ ТПОИ ТИ

Знаете ли Вы, что "гравитационное линзирование" якобы наблюдаемое вблизи далеких галактик (но не в масштабе звезд, где оно должно быть по формулам ОТО!), на самом деле является термическим линзированием, связанным с изменениями плотности эфира от нагрева мириадами звезд. Подробнее читайте в FAQ по эфирной физике.

НОВОСТИ ФОРУМА

Рыцари теории эфира