Структурный фактор (структурная амплитуда) - величина, характеризующая способность одной элементарной ячейки
кристалла когерентно рассеивать рентг. излучение в зависимости от числа N атомов в ячейке, их координат xj, уj, zj и атомных факторов fj. С. ф. тесно связан с фурье-компонентами
поляризуемости рентгеновской.
С. ф. Fhkl определяется как сумма атомных факторов fj с учётом имеющихся
пространственных сдвигов фаз между волнами, рассеянными разными атомами ячейки:
(i=
, h, k, l-индексы Миллера; см. Индексы кристаллографические).
С. ф. связан с амплитудой рассеяния элементарной ячейки кристалла. В кинематич.
приближении теории дифракции рентгеновских лучей интенсивность дифракц.
отражения с индексами h, k, l
В динамич. теории рассеяния
характеристики дифракц. максимумов определяются величиной |Fhkl|. Отсюда следует, что по экспериментально определяемым Ihkl
можно определить лишь модуль С. ф., для однозначного установления значения Fhkl необходимо, кроме того, решить т. н. фазовую проблему - найти фазы волн,
рассеянных разными атомами ячейки. Эта задача решается методами рентгеновского
структурного анализа.
С. ф. представляет собой
фурье-образ распределения электронной плотности r(x, y, z) в элементарной
ячейке кристалла:
где Vэя-объём
элементарной ячейки. Эта интегральная связь С. ф. с электронной плотностью лежит
в основе методов рентг. структурного анализа. В зависимости от симметрии расположения
атомов в элементарной кристал-лич. ячейке в направлениях, разрешённых Брэгга
- Вульфа условием, рассеянные атомами волны могут взаимно погашаться, так
что интенсивность нек-рых максимумов обращается в нуль. По тому, какие именно
дифракц. максимумы исчезли на рентгенограмме, можно (хотя и не всегда однозначно)
определить пространств. группу симметрии кристалла.
Аналогичным образом вводят
С. ф. в теории дифракции электронов и нейтронов, однако в этих случаях вместо
r(х, у, z)соответственно рассматривают распределение элек-тростатич.
потенциала и ядерной плотности в элементарной кристаллич. ячейке.
Литература по структурному фактору (структурной амплитуде)
Блохин М. А., Методы рентгеноспектральных исследований, М., 1959;
Лосев Н. Ф., Количественный рентгеноспектральный флуоресцентный анализ, М., 1969;
Плотников Р. И., Пшеничный Г. А., Флуоресцентный рент-генорадиометрический анализ, М., 1973;
Физические основы рентгеноспектрального локального анализа, пер. с англ., М., 1973;
Электронно-зондовый микроанализ, пер. с англ., М., 1974;
Афонин В. П., Гуничева Т. Н., Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ горных пород и минералов, Новосиб., 1977;
Лосев Н. Ф., Смагунова А. Н., Основы рентгеноспектрального флуоресцентного анализа, М., 1982;
Рентгенофлуоресцентный анализ, под ред. X. Эрхардта, пер. с нем., М., 1985;
Бахтиаров А. В., Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ в геологии и геохимии, Л., 1985;
Рентгенофлуоресцентный анализ, под ред. Н. Ф. Лосева, Новосиб., 1991.
Знаете ли Вы, что, как и всякая идолопоклонническая религия, релятивизм представляет собой инструмент идеологического подчинения одних людей другим с помощью абсолютно бессовестной манипуляции их психикой для достижения интересов определенных групп людей, стоящих у руля этой воровской машины? Подробнее читайте в FAQ по эфирной физике.